【单选题】【消耗次数:1】
兴奋性突触后电位突触后膜上发生的电位变化为
极化
超极化
后电位
复极化
去极化
参考答案:
复制
纠错
相关题目
【单选题】 兴奋性突触后电位与抑制性突触后电位的共同特征是
①  突触前膜均去极化
②  突触后膜均去极化
③  突触前膜释放的递质性质一样
④  突触后膜对离子通透性一样
⑤  产生的突触后电位的最终效应一样
【判断题】 动作电位的锋电位是由去极化和复极化组成的。
①  正确
②  错误
【单选题】 兴奋性突触后电位的产生,是由于突触后膜对下列哪种离子的通透性升高
①  Na+,K+,Cl-,尤其K+
②  Ca2+,K+,Cl-,尤其Ca2+
③  K+,Cl-,尤其Cl
④  -Na+,K+,尤其Na+
⑤  K+,Ca2+,Na+,Cl-,尤其Cl-
【单选题】 抑制性突触后电位是()
①  去极化局部电位
②  具有全或无性质
③  超极化局部电位
④  突触前膜递质释放量减少所致
⑤  突触后膜Na<sup>+</sup> 通透性增加所致
【判断题】 产生兴奋性突触后电位过程中,突触后膜对钠离子、钾离子、钙离子,特别是钾离子,通透性升高。
①  正确
②  错误
【单选题】 兴奋性突触后电位的产生,是由于提高了下列哪种离子的通透性
①  Ca2+
②  C1
③  -K+
④  Na+和K+,尤其是Na+
⑤  C1-和K+,尤其是C1-
【单选题】 胃肠平滑肌动作电位去极化产生的主要离子基础是:
①  K+内流
②  Na+内流
③  Ca2+内流
④  Ca2+和 K+内流
⑤  Na+内流和K+内流
【单选题】 关于抑制性突触后电位的产生,正确的叙述是
①  突触前轴突末梢超极化
②  对Ca2+、K+通透性增大
③  突触后膜出现超极化
④  突触后膜去极化
⑤  突触后膜出现复极化
【单选题】 关于抑制性突触后电位的产生,正确的叙述是( )
①  突触前轴突末梢超极化
②  突触后膜对钙离子和钾离子通透性增大
③  突触后膜去极化
④  突触后膜出现超极化
【单选题】 关于抑制性突触后电位的产生,正确的叙述是
①  突触前轴突末梢超极化
②  突触后膜对Ca2+、K+通透性增大
③  突触后膜去极化
④  突触后膜出现超极化
⑤  突触后膜对Na+通透性增大
随机题目
【判断题】 ADC0809是8位逐次逼近型A/D转换芯片
①  正确
②  错误
【判断题】 若[X]原=[X]反=[X]补,则该数X为正数。
①  正确
②  错误
【单选题】 在8086环境下,对单片方式使用的8259A进行初始化时,必须放置的初始化命令字为()。
①  ICW1,ICW2,ICW3
②  ICW1,ICW2,ICW4
③  ICW1,ICW3,ICW4
④  ICW2,ICW3,ICW4
【单选题】 在8086/8088CPU中,一个最基本的总线读写周期内,在T1状态,CPU往总线上发()信息。
①  数据
②  地址
③  状态
④  其它
【单选题】 在8086CPU中,指令指针寄存器是()。
①  BP
②  SP
③  IP
④  DI
【单选题】 8086系统中的中断向量表的作用是()。
①  存放中断服务程序
②  存放系统引导程序
③  存放中断响应标志
④  存放中断服务程序的入口地址
【单选题】 I/O设备与CPU之间交换信息,其状态信息是通过()总线传送给CPU的。
①  地址
②  数据
③  控制
④  三者均可
【单选题】 8086CPU用ALE的下降沿将T1期间出现的()信息锁存在外部地址锁存器中。
①  A0~A19
② 
③  A和B
④  D0~D15
【判断题】 伪指令语句和指令性语句一样,都是CPU可执行的语句。
①  正确
②  错误
【判断题】 8086CPU的EU单元直接经外部总线读取数据。
①  正确
②  错误